可控硅动态关断时间测试仪主要完成功率器件的开通特性、关断特性以及极限关断特性参数的测试。 本技术规格书ZY-Eon适用于IGCT功率半导体标准动态特性测试台(下面简称测试台),规定了测试台的主要技术要求,参数范围,操作流程,试验方法及检验规则等。 本技术规范并未对一切技术细节做出规定,所提供的货物应符合工业标准和本技术规范中所提要求。 [url=]1. 引用标准[/url][滨1] GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分:晶闸管 JB/T 7624-2013 整流二极管测试方法 JB/T 7626-2013 反向阻断三极晶闸管测试方法 以及国标、IEC、IEEE相关标准,以上标准均执行zuixin版本。如本技术规范与上述各标准之间有矛盾,则应满足较高标准。
2. 技术要求 序号 | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | 带宽不低于500MHz,采样率不低于6.5Gs/s | | | | | 2.1. 自动恒温压力夹具 序号 | | | | | | | | | | 10~130KN;分辨率0.1 KN,精度±5%±1KN。 | | | | | |
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